X射線空間分辨力測(cè)試卡

X射線空間分辨力測(cè)試卡

產(chǎn)品名稱： X射線分辨力測(cè)試卡

產(chǎn)品編號(hào)：20240706-10

產(chǎn)品廠家：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，生產(chǎn)加工：X射線分辨力測(cè)試卡

產(chǎn)品介紹：X射線分辨力測(cè)試卡，也稱為線對(duì)卡，是一種專門用于測(cè)試X射線成像設(shè)備分辨率的工具。這種測(cè)試卡通常由一系列線對(duì)組成，這些線對(duì)具有不同的線對(duì)每毫米(LP/MM)值，量程一般在0.6-5.0LP/MM之間。通過(guò)這些線對(duì)，可以評(píng)估X光影像系統(tǒng)的分辨率性能。

X射線分辨力測(cè)試卡的用途

X射線分辨力測(cè)試卡主要用于以下幾個(gè)方面：

質(zhì)量評(píng)定和檢測(cè)：適用于X射線機(jī)、體外碎石機(jī)、移動(dòng)式C型臂、胃腸造影機(jī)、血管造影機(jī)、模擬定位機(jī)等機(jī)器的質(zhì)量評(píng)定和檢測(cè)。

成像系統(tǒng)分辨率測(cè)試：用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。

空間分辨率質(zhì)量檢測(cè)：可用于工業(yè)CT、CT、X光診斷設(shè)備的圖像分辨率質(zhì)量檢測(cè)6。

X射線分辨力測(cè)試卡的工作原理

X射線分辨力測(cè)試卡的工作原理主要依賴于X射線的成像特性。測(cè)試卡上均勻地排列著若干組線對(duì)，相鄰兩組的距離為3mm。這些線對(duì)會(huì)對(duì)通過(guò)的X射線產(chǎn)生不同程度的吸收，從而在成像設(shè)備的熒光屏上形成不同的影像。通過(guò)對(duì)這些影像的觀察，可以檢測(cè)成像設(shè)備的分辨力能力

運(yùn)輸包裝：

產(chǎn)品編號(hào)：20240706-10